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检索条件"机构=美国奥克兰大学电子和计算机工程系"
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基于ARM的简易电路特性测试仪设计
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《现代计算机》2019年 第31期25卷 86-90页
作者：魏慕霖 袁良祺 刘一萱 李沣 陈子寒北京信息科技大学仪器科学与光电工程系北京100192 美国奥克兰大学电子和计算机工程系密歇根48309 
根据2019年全国大学生电子设计竞赛(D题)的要求,设计一种简易电路特性测试仪采用LMV358运放和STM32F407单片机对特定的放大器电路的特性进行测试计算,可在OLED屏显示输入输出电阻、增益系数以及幅频特性曲线,还具备判断放大器电路中元...
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