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检索条件"机构=航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室"
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基于ATE的FPGA器件测试方案研究
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《计算机与数字程》2015年 第1期43卷 80-82页
作者:焦亚涛 顾颖 石雪梅航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室北京100854 
在FPGA器件的测试领域,由于通用ATE的局限,需要为ATE设计FPGA配置板。然而目前行业内通用的配置方案测试效率低、可移植差,给FPGA器件测试程序的开发和测试都带来了很多不便。论文提出了种新的FPGA多重自动配置技术,设计采用FPGA...
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种基于电流积分法的ADC典型静态参数测试方法研究
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《计算机与数字程》2015年 第1期43卷 87-90,109页
作者:陈波 张虹 张碚航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室北京100854 
高位ADC的测试中,对输入信号的质量要求较高,般的混合信号测试系统难以达到要求。论文提出了种基于电流积分法的高位ADC典型静态参数测试方法,充分利用了聚丙烯电容在积分线度方面的优势,搭建了合理的测试电路,并在ATE上完成了对...
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双端口静态存储器测试方法研究
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《计算机与数字程》2015年 第1期43卷 83-86,112页
作者:李盛杰 张碚 顾颖航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室北京100854 
随着信息化和数字化技术的发展,双端口静态存储器在高速多处理器系统中广泛应用。其具有的高能提高了存储器测试的复杂度,增加了测试时间。在保证测试覆盖率的情况下降低测试复杂度和测试时间是双端口静态存储器测试的关键。论文分析...
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