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连续波电光检测法用于检测超薄层异质结外延材料均匀性的研究
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《Journal of Semiconductors》1997年 第5期18卷 350-355页
作者：苏小元 朱祖华苏州大学工学院电子系苏州215006 浙江大学信息与电子工程系杭州310027 
本文以连续波电光检测法（CWEOP）为基本原理，设计完成了自动电光检测系统，并采用锁相放大技术，对超薄层异质结外延材料进行了电场分布的测试，由此对其均匀性进行了评估．通过实验探讨了超薄层异质结外延材料2DEG分布不均匀的电光...
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