摘要：随着我国半导体产品的飞速发展,国产FPGA系统在数字电路设计领域得到了越来越广泛的应用。本论文以国产JXCLX25型FPGA系统为平台,探讨了其功能性能并进行详细测试,同时对其热学环境适应性,力学环境适应性进行验证。首先介绍了JXCLX25型FPGA系统的特点和优势,然后详细阐述了基于该系统的软硬件设计与实现过程、并对该系统进行详细实验与验证。最后对JXCLX25型FPGA系统的发展前景进行了总结与展望。

摘要：介绍了一款新型混合集成电路老炼温控装置,通过固体交流继电器与温控器及加热器串联,用硅脂垫作为导热媒介对老炼装置进行热传递从而加温,在硅脂垫中间设有温度测量装置与温控器串联,同时,在加热器下方设有散热风扇,当温度过高时,通过温控器的设定,固体交流继电器熔断从而使加热器停止工作,同时散热风扇启动进行散热处理。

摘要：本设计采用了国内公司的MV24C12M150BDC/DC电源模块,设计了一款DC/DC电源模块测试板。该测试板预留了丰富的测试点以及测试接口,不仅能够对国产DC/DC模块功能性能进行详细测试,通过测试板进行各种环境适应性测试验证。该板级在聚焦自身优点同时,还兼容国外相同封装相同类型的电源模块。既可满足于生产厂家测试需求,还能够在客户选用该模块时,有着很好的推荐设计作用及推广意义。

摘要：本文提出了一种基于ATE(Automatic Test Equipment)的可编程逻辑器件在线测试方法。通过以Teradyne J750HD为平台,以ALTERA的MAX7000和LATTICE的MachXO2系列芯片为研究对象,解决了可编程逻辑器件的在线测试技术。其中核心技术包括JTAG边界扫描技术的解析、满足ATE测试的DUT的专用测试板硬件端口设计,ATE测试向量生成工具设计。在线测试不仅具有测试效率高、可移植性强、故障覆盖率高、通用性好的优点,对于量产筛选测试具有实际应用意义。

摘要：我国电子行业发展速度快、水平高,对于芯片的需求量日益增大,因此对自主研发的元器件功能、性能、质量可靠性和环境适应性提出了更高的要求。以静态随机存储器SRAMHRSR88512J为研究对象,通过MarchC+算法对其在应用环境下的功能、性能、质量可靠性进行测试,研究了在特定环境下元器件的性能参数,研究结果表明,对其进行了全覆盖功能测试、全时序参数测试、电参数测试进行了全覆盖,测试结果符合应用要求。这些研究结果对静态随机存储器在多种应用环境下的应用具有重要意义。

摘要：本文介绍了一种晶体振荡器自动化测试系统,实时在线的进行自动测量,并通过测试结果对晶体振荡器进行筛选,大大提高了测试效率并且降低了人为产生的误.差,更加适合应用于规.模化的测试生产中。该系统能够测试200MHz频率范围内的晶体振荡器,精度能够达到1ppm,电流测试范围为0~13A,测试精度能达到0.05%,系统解决大批量晶体振荡器进行测试,并对测试结果、测试数据结论与测试数据问题进行计算并筛选,规范测试操作,减少过程差错率,最终实现了一套适用于工业化生产的晶体振荡器自动测试系统。

摘要：为了能够有效识别和甄选出可供鱼雷使用的性能优良、质量可靠的DC/DC电源模块,提出了一种鱼雷DC/DC电源模块质量比测模型,该模型的建立以DC/DC电源模块工作原理和失效模式以及鱼雷使用中出现的故障为切入点,从性能与功能、结构与形成、设计开发过程、质量保证能力等多个维度总结和分析了对鱼雷DC/DC电源模块质量有相对重要影响的关注点,进而提炼出相关要素构建了鱼雷DC/DC电源模块质量比测通用模型。在此基础上重点对性能与功能、结构与形成等方面的比测方法进行了研究,同时,根据比测模型和鱼雷产品应用场景,对比测结果的判定提出依据和方法。质量比测模型、比测方法及相关判据的研究,为鱼雷产品选用DC/DC电源模块提供了系统解决方案,同时也为鱼雷电路可靠性分析和保障提供了理论支撑。

摘要：引言:虚拟仪器技术就是利用高性能的模块化硬件,结合高效灵活的软件来完成各种测试、测量和自动化的应用。灵活高效的软件能帮助您创建完全自定义的用户界面,模块化的硬件能方便地提供全方位的系统集成,标准的软硬件平台能满足对同步和定时应用的需求。目前使用较为广泛的是NI公司的LabVIEW,LabVIEW是一个标准的数据采集与仪器控制软件,由于NI官网上有相当多的通用仪器设备的驱动程序,而图形化编程语言的LabVIEW,其内部有非常丰富的函数库,所以界面的表达和程序的编写都相当的方便。

摘要：首先,介绍了模拟开关的应用范围、分类,失效率的浴盆曲线规律和集成电路测试的重要性;其次,详细地介绍了集成电路模拟开关直流参数的理论测试方法,包括电源电流、导通电阻、 S端和D端电流和输入电流,总结了实际测试中的问题和难点主要有两点:一是导通电阻偏差大,二是S、 D端漏电流测试不准确,并介绍了导致这两个问题的原因;然后,介绍了在实际中模拟开关测试的开尔文测试法和辅助回路漏电流测试方法;最后,对模拟开关集成电路测试进行了总结,即在前期设计测试回路与DUT板时需要考虑开尔文连接点的选择,尽量地减少因为接触电阻或者连接线内阻而引起的导通电阻的偏差,减小因测试夹具和测试回路引入的漏电流,以保证测试结果的准确性。

摘要：本文主要介绍了一款基于PXA255A0E400处理器的最小测试系统的设计与实现,然后基于自动化测试设备(ATE:J750-HD)对PXA255A0E400芯片进行测试。通过芯片的JTAG仿真口下载功能代码以及ATE设备在线测试代码编写,一次性从检验器件ID到完成对芯片的直流参数、交流参数、逻辑功能的测试,以及片外存储器的写入与擦除。通过该项目建立的一套完整的测试流程,形成了一个稳定的测试系统平台,并实现了产品的工程测试量产,通过验证测试结果基本达到了预期目标。外部存储器存储代码使得测试人员无需对PXA255A0E400芯片进行写入与擦除,大大的缩短了芯片的测试时间,节约了公司的人工成本。