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采用VXI降低测试系统的尺寸和成本
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《今日电子》2000年 第4期 26-27页
作者：Bert Kolts 锦Agilent Technology公司 
要构建一套VXI基的测试系统,首先需要对全部供应的产品在价格、性能和开发时间三方面进行评估,这里假设对一套用于测试精密电压基准长期漂移的大型测试系统进行重新设计。 需要重新设计的系统采用两个机架,装有数字多用表、电压标准、...
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