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基于可靠性及噪声约束的电源/地线优化设计: 收藏
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引用; 《Journal of Semiconductors》2000年第8期21卷 816-821页; 作者：李春辉范明钰庄昌文虞厥邦黄劲电子科技大学光电子技术系 AmbowCorp.; 电源 /地线 ( P/G)拓扑结构的优化设计是超大规模集成电路 ( VLSI)中直接影响芯片性能的一个非常重要的问题 .通过对考虑可靠性及噪声的各项约束条件的分析 ,提出了一种时间复杂度为 O( N2m)基于最小代价生成树 ( MST)和改进的 Prim算...; 电源 /地线 ( P/G)拓扑结构的优化设计是超大规模集成电路 ( VLSI)中直接影响芯片性能的一个非常重要的问题 .通过对考虑可靠性及噪声的各项约束条件的分析 ,提出了一种时间复杂度为 O( N2m)基于最小代价生成树 ( MST)和改进的 Prim算法的快速构造算法 .实验结果表明。; 来源：详细信息评论

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