T=题名(书名、题名),A=作者(责任者),K=主题词,P=出版物名称,PU=出版社名称,O=机构(作者单位、学位授予单位、专利申请人),L=中图分类号,C=学科分类号,U=全部字段,Y=年(出版发行年、学位年度、标准发布年)
AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
范例一:(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二:P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016
摘要:1引言在测试测量领域中,高性能的程控开关系统可以大幅度提高测试系统的灵活性,并且能够提高测试系统的测试效率和可靠性。由于测试系统的用途多样——产品研发验证、批量生产测试、故障诊断与检修;而且每种应用中被测信号的数量与特性的要求也千差万别,
摘要:随着802.11ac和LTE产品的发展,对相应的功能测试系统也提出来更高的要求。与测试分析仪器相匹配的开关系统在尺寸,结构形式,性能等多方面均发生了较大的变化。采用6 GHz固态继电器作为核心器件,使开关系统的体积更紧凑,切换速度更快,并大幅降低了系统成本。
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